【摘要】采用光学原位拉伸试验对2A12-T4和2A12-O铝合金搅拌摩擦焊接头在拉伸变形过程中的微观损伤演变进行了观察,并分析了失配接头的裂纹扩展路径.结果表明,2A12-O高配接头拉伸试验断裂于母材,2A12-T4低配接头断裂于近HAZ区;高配和低配接头第二相粒子与母材晶粒性能均不匹配,导致低配接头裂纹多萌生于第二相粒子,且较大的第二相粒子开裂程度明显大于较小第二相粒子和基体,而高配接头裂纹多萌生晶粒内;高配接头和低配接头裂纹扩展路径均以穿晶扩展为主,高配接头中的微裂纹、大角度晶界和第二相粒子对裂纹的扩展起到阻碍作用,低配接头破裂的第二相粒子对裂纹的扩展起到促进作用.
【关键词】
《建筑知识》 2015-05-12
《中国医疗管理科学》 2015-05-12
《中国医疗管理科学》 2015-05-12
《中国医疗管理科学》 2015-05-12
《重庆与世界》 2015-07-01
《当代体育科技》 2015-07-08
《重庆高教研究》 2015-06-30
《中外医疗》 2015-07-03
010-56259535
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